Messehighlight 25. April 2023
Die neue Generation optischer 3D-Profilometer - TopMap Micro.View+
MODULARE OPTISCHE 3D-MESSSTATION FÜR RAUHEIT UND MIKROSTRUKTUREN
Micro.View+ ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer. Als modulare Messstation bietet sie Konfigurationsmöglichkeiten und viele Freiheitsgrade für die verlässliche, hochgenaue Prüfung selbst feinster Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Flächenhafte 3D-Messdaten sowie Farbdarstellungen erlauben aussagekräftige Visualisierungs- und Analyseformen sowie die professionelle Dokumentation von Defekten. Die 5 MP Kamera nimmt 3D-Messbilder bis ins letzte Detail auf.
Automatisierbar auch als in-line Qualitätskontrolle
Umfangreiches Zubehör erleichtert und beschleunigt die Messvorgänge signifikant. Während Focus Finder und Focus Tracker Prüflinge unter allen Umständen stets im Fokus behalten, unterstützen voll-motorisierte Positioniereinheiten das Stitching und automatisierte Prüfprozesse.
High-end Weißlichtinterferometer mit nm Auflösung
100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
Focus Finder und Focus Tracker ideal für automatisierte Fertigungskontrolle
Kein Nachpositionieren dank motorisierter Tip-Tilt Stage und Revolver
Farbmodus für die professionelle Analyse und Dokumentation von Defekten
Modular für anwendungsspezifische Konfigurationen
Micro.View+ ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer. Als modulare Messstation bietet sie Konfigurationsmöglichkeiten und viele Freiheitsgrade für die verlässliche, hochgenaue Prüfung selbst feinster Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Flächenhafte 3D-Messdaten sowie Farbdarstellungen erlauben aussagekräftige Visualisierungs- und Analyseformen sowie die professionelle Dokumentation von Defekten. Die 5 MP Kamera nimmt 3D-Messbilder bis ins letzte Detail auf.
Automatisierbar auch als in-line Qualitätskontrolle
Umfangreiches Zubehör erleichtert und beschleunigt die Messvorgänge signifikant. Während Focus Finder und Focus Tracker Prüflinge unter allen Umständen stets im Fokus behalten, unterstützen voll-motorisierte Positioniereinheiten das Stitching und automatisierte Prüfprozesse.
High-end Weißlichtinterferometer mit nm Auflösung
100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
Focus Finder und Focus Tracker ideal für automatisierte Fertigungskontrolle
Kein Nachpositionieren dank motorisierter Tip-Tilt Stage und Revolver
Farbmodus für die professionelle Analyse und Dokumentation von Defekten
Modular für anwendungsspezifische Konfigurationen
Polytec GmbH
Ansprechpartner
Herr Matthias Pauli